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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	品牌所有品牌時(shí)代儀器德國(guó)德圖TESTO 國(guó)產(chǎn) 蘭泰星晟檢測(cè) 美國(guó)博士能BUSHNELL 南通友聯(lián) 英國(guó)易高日本小野瑞士徠卡LEICA 日本理音RION 臺(tái)灣衡欣AZ 德國(guó)尼克斯德國(guó)KK 法國(guó)CA 日本HIOKI 臺(tái)灣PROVA 德國(guó)EPK 美國(guó)GE 武漢中科美國(guó)達(dá)高特德國(guó)馬爾美國(guó)FLUKE	主要技術(shù)指標(biāo)	價(jià)格
	激光轉(zhuǎn)速表 DT-2857	蘭泰	測(cè)量范圍:2.5-99999轉(zhuǎn)/分光電測(cè)量距離：50-600mm 準(zhǔn)確度:±(0.05%n+1d)	洽詢
	手持激光測(cè)距儀 DISTO D3a/BT	瑞士徠卡LEICA	± 1.0mm測(cè)量精度(標(biāo)準(zhǔn)) 測(cè)量結(jié)果精確 ± 45° 傾角傳感器可直接測(cè)量角度	洽詢
	激光測(cè)距儀 Laser440	國(guó)產(chǎn)	測(cè)量距離: 10-400m (10.5-437yd)	洽詢
	激光測(cè)距儀 PRO TROPHY	美國(guó)博士能BUSHNELL	測(cè)距范圍:5-730米	洽詢
	單筒望遠(yuǎn)鏡式激光測(cè)距儀 ELITE1500	美國(guó)博士能BUSHNELL	測(cè)距范圍 5-1500碼（約5-1370米）	洽詢
	專用激光測(cè)距望遠(yuǎn)鏡 Pinseeker 1500	美國(guó)博士能BUSHNELL	測(cè)距范圍 5-1500碼（約5-1370米）觀察放大倍數(shù) 7倍	洽詢
	高爾夫?qū)Ｓ眉す鉁y(cè)距望遠(yuǎn)鏡 PINSEEKER W_Slope 1500	美國(guó)博士能BUSHNELL	測(cè)角度范圍 +/-20° 測(cè)距范圍 5-1500碼（約5-1370米）	洽詢
	壁厚測(cè)量?jī)x DM5E系列	美國(guó)GE	材料聲速范圍：0.508到18.699毫米/毫秒（0.0200到0.7362英寸/毫秒）	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀 DMS Go	美國(guó)GE	多種測(cè)量模式：A 掃描、厚度、B 掃描、最小/最大、溫差范圍	洽詢
	霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀 FH7400	德國(guó)EPK	測(cè)量厚度高達(dá)10mm	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀 HCH-2000D	國(guó)產(chǎn)	測(cè)量范圍:0.65-260mm (配不同探頭）	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀鋼高溫型 TT120	時(shí)代儀器	測(cè)量范圍（鋼）：1.2mm～225.0mm(5MHz探頭）,高溫測(cè)厚	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀 TT340	時(shí)代儀器	測(cè)量范圍：5.0~40.0mm(鑄鐵)1.2~300.0(鋼)	洽詢
	超聲波測(cè)厚儀(可穿透涂層) TIME2136-原TT360	時(shí)代儀器	測(cè)量范圍：</p>0.6mm-300mm（根據(jù)待檢材料、溫度、測(cè)量模式及傳感器而定）	洽詢
	麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀 MIKROTEST NI50	德國(guó)EPK	測(cè)量范圍：0-50um	洽詢
	麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀 MIKROTEST NIFE50 6	德國(guó)EPK	測(cè)量范圍：0－50μm	洽詢
	麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀 MIKROTEST S3 6	德國(guó)EPK	測(cè)量范圍：0.2－3mm	洽詢
	涂鍍層測(cè)厚儀 Minitest 2100	德國(guó)EPK	量程根據(jù)探頭決定	洽詢
	涂鍍層測(cè)厚儀 Minitest 4100	德國(guó)EPK	量程根據(jù)探頭決定	洽詢
	筆式涂層測(cè)厚儀 PENTEST	德國(guó)EPK	測(cè)量范圍： 25-700um或1-28mils	洽詢

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