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產(chǎn)品分類
資質(zhì)證書
客戶榮譽
kehury
技術(shù)文章
  • 正確使用紅外熱像儀的方法和技巧
  • 紅外熱像儀使用注意事項
  • 如何選擇超聲波探傷儀（案例分析）
  • 布氏硬度（HB）原理
  • 對電子天平的校準(zhǔn)以減小誤差
  • 壓力露點儀的常見故障
  • 靜電發(fā)生器的應(yīng)用：靜電吸附
  • 輻射防護
  • 電源常規(guī)功能測試
  • 維氏硬度計試驗的優(yōu)點、缺點
    		•
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    產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱/型號 主要技術(shù)指標(biāo) 價格
    紅外熱像儀,型號:Ti9,品牌:美國FLUKE
    		 紅外熱像儀
    Ti9    		 美國FLUKE 溫度量程（-10 °C以下未經(jīng)校準(zhǔn)）： -20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F） 洽詢
    熱成像儀,型號:Ti55FT,品牌:美國FLUKE
    		 熱成像儀
    Ti55FT    		 美國FLUKE 校準(zhǔn)溫度范圍：Ti55: -20 ˚C至600 ˚C，3量程（-4 oF至1112 oF） 洽詢
    紅外熱像儀,型號:TiR4FT,品牌:美國FLUKE
    		 紅外熱像儀
    TiR4FT    		 美國FLUKE 校準(zhǔn)溫度范圍：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF） 洽詢
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