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產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號(hào)
品牌
所有品牌
TIME北京時(shí)代集團(tuán)
德國(guó)德圖TESTO
國(guó)產(chǎn)
蘭泰
星晟檢測(cè)
美國(guó)博士能BUSHNELL
南通友聯(lián)
英國(guó)易高
日本小野
瑞士徠卡LEICA
日本理音RION
臺(tái)灣衡欣AZ
德國(guó)尼克斯
德國(guó)KK
法國(guó)CA
日本HIOKI
臺(tái)灣PROVA
德國(guó)EPK
美國(guó)GE
武漢中科
美國(guó)達(dá)高特
德國(guó)馬爾
主要技術(shù)指標(biāo)
價(jià)格
激光測(cè)距儀
DISTO DXT
瑞士徠卡LEICA
測(cè)量精度(標(biāo)準(zhǔn)) ± 1,5 mm
測(cè)量范圍 0.05 m – 70 m
洽詢
手持式激光測(cè)距儀
DISTO D8
瑞士徠卡LEICA
測(cè)量范圍 : 0.05 m ~ 200 m ;
測(cè)量精度 ( 典型 ) : ± 1.0 mm / ± 0.04 in
洽詢
激光測(cè)距儀
YARDAGE PRO500
美國(guó)博士能BUSHNELL
測(cè)量精確度±1(碼/米)一般物件之測(cè)量最遠(yuǎn)距離400m
洽詢
激光測(cè)距儀
Laser800S
國(guó)產(chǎn)
測(cè)量距離:10-730m (11-800yd)
洽詢
激光測(cè)距儀
Laser600
國(guó)產(chǎn)
測(cè)量距離:10-560m (11-600yd)
洽詢
激光測(cè)距儀
Pro sport 450
美國(guó)博士能BUSHNELL
測(cè)距范圍
5-800碼(約5-730米)
洽詢
高爾夫?qū)S眉す鉁y(cè)距望遠(yuǎn)鏡
PINSEEKER W_Slope 1500
美國(guó)博士能BUSHNELL
測(cè)角度范圍 +/-20°
測(cè)距范圍
5-1500碼(約5-1370米)
洽詢
激光測(cè)距儀
PRO Tour V2
美國(guó)博士能BUSHNELL
測(cè)距范圍
5-1000碼(約5-900米)
觀察放大倍數(shù)
5倍
洽詢
霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀
FH7400
德國(guó)EPK
測(cè)量厚度高達(dá)10mm
洽詢
麥考特機(jī)械涂層測(cè)厚儀
MIKROTEST NI100
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:0-100um
洽詢
涂層測(cè)厚儀
MiniTest 720
德國(guó)EPK
探頭類型:內(nèi)置
洽詢
涂層測(cè)厚儀
MiniTest 730
德國(guó)EPK
探頭類型:外置
洽詢
超聲波涂層測(cè)厚儀
QuintSonic 7
德國(guó)EPK
測(cè)量范圍:300 μm, 700 μm, 1,5 mm, 3,1 mm, 5,9 mm(2375 m/s 聲速在所有層)
洽詢
STODA涂層測(cè)厚儀
STD2200
國(guó)產(chǎn)
測(cè)量范圍:0~1250μm
洽詢
涂鍍層測(cè)厚儀
QNix7500
德國(guó)尼克斯
顯示精度 1μm ;0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm
洽詢
涂鍍層測(cè)厚儀
QNix keyless
德國(guó)尼克斯
測(cè)量精度 0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%, 2000-5000μm≤±3%
洽詢
涂(鍍)層測(cè)厚儀
MC-2000A
國(guó)產(chǎn)
MC-2000 A 型測(cè)量范圍:0-1500um
MC-2000 C 型測(cè)量范圍:0-5000um
MC-2000 D 型測(cè)量范圍:10-9000um
洽詢
鐵基涂層測(cè)厚儀
CM8820
蘭泰
分辨率: 0.1 um (小于100um)<br>
1 um (大于100um)<br>
最小測(cè)量面積:6mm<br>
最薄基底:0.3mm<br>
洽詢
數(shù)字式涂層測(cè)厚儀
TT260
TIME北京時(shí)代集團(tuán)
使用環(huán)境溫度:0~40℃
洽詢
SPC涂層分析儀
Elcometer 365
英國(guó)易高
探頭模塊的精確度為1%
洽詢
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