| 產品圖片 | 產品名稱/型號 | | 主要技術指標 | 價格 |
| 電子分析天平,310g,0.1mg
HR-300 | 日本AND | 精度 0.1mg | 洽詢
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| 微量分析天平,220g,0.1mg
GH-200 | 日本AND | 專業(yè)型高精度寬范圍微量天平 | 洽詢
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| 電子分析天平,310g,0.1mg
GR-300 | 日本AND | 測量范圍:310克 | 洽詢
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| 分析天平,210g,0.1mg
GR-200 | 日本AND | 測量范圍:210克 | 洽詢
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| 電子精密分析天平,220g,0.1mg
CPA224S-OCE | 德國賽多利斯SARTORIUS | 量 程： 220g
精 度： 0.1mg
稱盤尺寸： ф80 | 洽詢
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| FX-CT系列克拉天平,610g/122g,0.001g/0.005g
FX-600CT | 日本AND | 稱重范圍（ct/g）610/122讀數精度(ct/g)0.001/0.001重復性(ct/g)0.001/0.005 | 洽詢
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| FX-GD系列克拉天平,2200g,0.01g
FX-2000GD | 日本AND | 稱重范圍2200g讀數精度0.01g重復精度0.01g | 洽詢
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| FX-GD系列克拉天平,320g,0.001g
FX-300GD | 日本AND | 稱重范圍320g讀數精度
0.001g
重復精度
0.001g
| 洽詢
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| FX-iWP 系列防水精密電子天平,1220g,0.01g
FX-1200iWP | 日本AND | 量程 1220g精度 0.01g 稱盤尺寸 Ø 150mm | 洽詢
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| FX-iWP 系列防水精密電子天平,122g,0.001g
FX-120iWP | 日本AND | 量程
122g
精度
0.001g
稱盤尺寸 Ø
130mm
| 洽詢
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| FX-i系列精密天平,2200g,0.01g
FX-2000i | 日本AND | FX-2000i
2200g
0.01g
直徑150mm
| 洽詢
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| FX-i系列精密天平,220g,0.001g
FX-200i | 日本AND | FX-200i
220g
0.001g
直徑130mm
| 洽詢
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| 電子分析天平,310g,0.1mg
LA310S | 德國賽多利斯SARTORIUS | 最大稱量310g,最小讀數0.1mg | 洽詢
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| LA雙核系列精密天平,60/120/230g,0.1/0.2/0.5 mg
LA230P | 德國賽多利斯SARTORIUS | 稱重范圍60/120/230g讀數精度0.1/0.2/0.5 mg稱盤尺寸ф90mm | 洽詢
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| LA雙核系列精密天平,120g,0.1mg
LA120S | 德國賽多利斯SARTORIUS | 稱重范圍120g讀數精度0.1mg稱盤尺寸ф90mm | 洽詢
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| BT系列精密天平,105/210g,0.1/1mg
BT214D | 德國賽多利斯SARTORIUS | 可讀性
（mg）0.1/1稱重范圍
(g)105/210稱盤尺寸
(mm)ф80 | 洽詢
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| BT系列精密天平,220g,0.1mg
BT224S | 德國賽多利斯SARTORIUS | 可讀性
（mg）0.1 稱重范圍
(g)220稱盤尺寸
(mm)ф80 | 洽詢
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| 電子精密分析天平,220g,0.1mg
CPA224S | 德國賽多利斯SARTORIUS | 量 程： 220g
精 度： 0.1mg
稱盤尺寸： ф80 | 洽詢
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| 電子分析天平,64g,0.1mg
CPA64 | 德國賽多利斯SARTORIUS | 量 程： 64g
精 度： 0.1mg
稱盤尺寸： ф80 | 洽詢
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| 分析天平,5.1g,0.001mg
ME5 | 德國賽多利斯SARTORIUS | 稱重范圍(g):5.1 | 洽詢
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